Denkei　電計貿易（上海）有限公司

電子探針微分析儀

(EPMA-8050G)

EPMA-8050G是EPMA-1720(H)的升級產品，是EPMA業界的新機型，可通過非破壞的方式，在高放大倍數下對各種電子器件的微觀形貌進行觀察，查找各種缺陷，并對其進行精準的成分分析，從而找到改進方案。

廠家	島津企業管理(中國)有限公司
產品分類	圖像分析檢測儀器/表面檢查(77) ? 表面形狀測試裝置(17) ? 探針顯微鏡(1)

（1）高空間分辨的二次電子像，分辨率高達3nm；
（2）配備高質量分辨的背散射電子檢測器，可以快速輔助查找分析區域。
（3）配備成套的標準樣品，可對材料進行精準的成分分析。
（4）可對超輕元素（B~F）進行高精度的成分分析。

電子零部件、電路板、樹脂及塑料零部件、小型零部件、電池的內部缺陷判斷及測量

材料	金屬材料	非金屬材料

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